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期刊文章详细信息

干涉条纹细化的曲线拟合方法    

A Curve Fitting Method for Interference Fringes Thinning

  

文献类型:期刊文章

作  者:周恕义[1] 关承祥[1] 金国藩[2]

机构地区:[1]哈尔滨师范大学物理系,哈尔滨150080 [2]清华大学,北京100084

出  处:《电子测量与仪器学报》

基  金:黑龙江省自然科学基金;哈尔滨师范大学科研基金

年  份:1998

卷  号:12

期  号:3

起止页码:13-17

语  种:中文

收录情况:CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘  要:针对干涉图解析法的面形测量,提出了用最小二乘法做二次曲线拟合对干涉条纹进行细化的方法,提高了CCD测试精度,给出了实测结果。

关 键 词:干涉条纹 细化  曲线拟合  面形测量

分 类 号:O436.1]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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