期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]哈尔滨师范大学物理系,哈尔滨150080 [2]清华大学,北京100084
基 金:黑龙江省自然科学基金;哈尔滨师范大学科研基金
年 份:1998
卷 号:12
期 号:3
起止页码:13-17
语 种:中文
收录情况:CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊
摘 要:针对干涉图解析法的面形测量,提出了用最小二乘法做二次曲线拟合对干涉条纹进行细化的方法,提高了CCD测试精度,给出了实测结果。
关 键 词:干涉条纹 细化 曲线拟合 面形测量
分 类 号:O436.1]
参考文献:
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引证文献:
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