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期刊文章详细信息

大电流温升试验中铜排长度对试验误差的影响    

Error Produced by Different Bus Length in Temperature Rise of Large Current Experiment

  

文献类型:期刊文章

作  者:王博[1] 王永祥[2] 吕宏锐[1]

机构地区:[1]海军驻宝鸡地区军事代表室,陕西宝鸡721006 [2]陕西国防科技工业技术开发中心,陕西西安710061

出  处:《现代电子技术》

年  份:2009

卷  号:32

期  号:17

起止页码:72-74

语  种:中文

收录情况:IC、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘  要:大电流电器设备在温升试验中需要使用截面积比较大的铜排,而大截面铜排的导热能力强,使得铜排另端的电源或电连接端子形成的热源对试验设备温升有较大干扰,可能导致试验误差。建立一维有限差分模型分析了大电流温升试验中铜排长度对试品温升造成的误差,给出了为减小误差而必须采用的铜排最小长度。其结论对大电流配电板设计中的温升问题有一定参考作用。

关 键 词:大电流电器  温升试验 铜排 配电板

分 类 号:TP29]

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同被引文献:

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