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高温超导薄膜微波表面电阻的高精度测试技术研究(英文)
SAPPHIRE RESONATOR PROBE FOR ACCURATE CHARACTERIZATION OF MICROWAVE SURFACE RESISTANCE OF HIGH T c SUPERCONDUCTIVE THIN FILMS
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]电子科技大学微波中心
年 份：1998
卷 号：20
期 号：4
起止页码：311-315
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX1996、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、INSPEC、JST、ZGKJHX、核心刊
摘 要：本文在１７ＧＨｚ下研制了高精度高温超导薄膜微波表面电阻Ｒｓ测试系统，该系统采用ＴＥ０１１＋δ模悬置屏蔽兰宝石高Ｑ谐振器作为测试传感器，具有很高的测试灵敏度，在７７Ｋ时，Ｒｓ的测试灵敏度为１００μΩ，可对Φ１０ｍｍ以上的单片高温超导薄膜（单面或者双面）进行高灵敏度、高精度、非损伤自动测量．
关 键 词：高TC 超体体 薄膜 表面电阻 微波测试系统
分 类 号：TM260.144[材料类] TM260.6]
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