期刊文章详细信息
氩氧比例对Al_2O_3薄膜结构及性能的影响
Influence of Ar/O_2 Ratio on Microstructures and Properties of Al_2O_3 Thin Films
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]南京农业大学工学院机械系,南京210031 [2]南京航空航天大学材料科学与技术学院,南京210016
基 金:江苏省自然科学基金资助项目(BK2005128)
年 份:2009
卷 号:61
期 号:3
起止页码:33-36
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX2008、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、核心刊
摘 要:以纯铝为靶材,在不同氩氧比例下,采用直流反应磁控溅射方法制备Al2O3薄膜。利用X射线衍射(XRD)、能谱(EDS)、扫描电镜(SEM)和精密阻抗分析等方法检测薄膜的组织结构、化学成分和介电性能。结果表明,在250℃的低温条件下,不同氩氧比例的Al2O3薄膜都为非晶结构。随着氧分量的增加,Al2O3薄膜的表面由平滑致密变得粗糙,化学计量失配度增大。在氧分量较小的气氛下,Al2O3薄膜均匀致密,化学计量失配度较小,Al/O原子比接近2/3。随着氩氧比的增大,Al2O3薄膜的介电常数减小和介电损耗增大,当氩氧比为3∶1时,Al2O3薄膜的介电常数较大(ε=7.9~10.3),介电损耗较小(tanδ<0.2),薄膜的介电性能相对较好。
关 键 词:无机非金属材料 AL2O3薄膜 直流反应磁控溅射 氩氧比 介电性能
分 类 号:O484.4] TB383[物理学类]
参考文献:
正在载入数据...
二级参考文献:
正在载入数据...
耦合文献:
正在载入数据...
引证文献:
正在载入数据...
二级引证文献:
正在载入数据...
同被引文献:
正在载入数据...