文献类型：期刊文章

作　　者：张凡[1] 王东[1] 黄光明[1] 周代翠[1]

机构地区：[1]华中师范大学物理科学与技术学院,夸克与轻子物理教育部重点实验室(华中师范大学),湖北武汉430079

出　　处：《核电子学与探测技术》

基　　金：国家重大基础研究计划(973计划)课题(2008CB317106);国家自然科学基金(10875081;10575044;10635020);教育部科学与技术研究重大项目基金(306022);教育部科技创新团队基金(IRT0624)

年　　份：2009

卷　　号：29

期　　号：4

起止页码：760-763

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、SCOPUS、核心刊

摘　　要：因为最新研发的250块ALICE/PHOS前端电子学FEE系统板的部分器件在无铅焊接中被部分或完全损坏。为了不影响FEE系统性能,准确定位FFE系统板上与FPGA相关的故障,在对ACEX系列FPGA的配置机制进行深入研究的基础上找到了一种定位FEE系统板故障点的方法。文章着重研究了多器件的JTAG配置、基于EPC系列配置器件的PS配置和FPGA的自动重配置等问题。FEE系统板的大量测试和维修结果证明,该定位方法能准确、快速地定位FEE系统板上与FPGA器件相关的故障点。

关 键 词：前端电子学系统  故障定位 FPGA配置机制  

分 类 号：TN911.6]