期刊文章详细信息
互连线和CMOS模型对性能影响的分析
Analysis for interconnect and CMOS models' influence on performance
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]上海交通大学电子信息与电气工程学院微波与射频技术研究中心,上海200240
基 金：国家自然科学基金-创新研究群体科学基金(60521002)
年 份：2009
卷 号：33
期 号：7
起止页码：50-52
语 种：中文
收录情况：ZGKJHX、普通刊
摘 要：在集成电路中,全局互连线的设计是关键。分析了互连线RC和RLC模型的不同特性;针对互连线与CMOS器件级联的电路进行分析。分析了集成电路中互连线和CMOS的模型对性能的影响,并给出了基于HSPICE软件的仿真结果。仿真结果表明,不同互连线和CMOS模型对系统传输特性有一定影响。
关 键 词：高速集成电路 互连线 CMOS 模型
分 类 号：TN811]
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