文献类型：期刊文章

作　　者：刘承香[1] 张力[2] 吴旭[3] 杨海丽[1] 阮双琛[1]

机构地区：[1]深圳市激光工程重点实验室,深圳大学电子科学与技术学院,深圳518060 [2]深圳大学信息工程学院,深圳518060 [3]西安工业大学数理系,西安710032

出　　处：《中国惯性技术学报》

基　　金：武器装备预研基金项目(9140A09010208QT5101);深圳市科技计划资助项目(200618)

年　　份：2009

卷　　号：17

期　　号：3

起止页码：366-369

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：光子晶体光纤与普通单模光纤的低损耗熔接是影响光子晶体光纤实用化的重要技术。针对自行设计的光子晶体光纤,对其与普通单模光纤的熔接损耗机制进行了理论和实验研究。首先分析了影响熔接损耗的主要因素,然后理论计算了光子晶体光纤与普通单模光纤之间的耦合损耗,最后采用常规电弧放电熔接技术对光子晶体光纤与单模光纤的熔接损耗进行了实验研究,通过优化放电参数,使熔接损耗可以降到0.7dB以下,满足了实际应用的要求。该方法为其他类型的光子晶体光纤与普通单模光纤的熔接提供了借鉴。

关 键 词：光子晶体光纤 单模光纤 耦合技术 熔接损耗

分 类 号：U666.1]