文献类型：期刊文章

作　　者：郭金玲[1] 沈岳年[2]

机构地区：[1]内蒙古工业大学化工学院,内蒙古呼和浩特010062 [2]内蒙古大学化学化工学院,内蒙古呼和浩特010021

出　　处：《内蒙古师范大学学报（自然科学汉文版）》

基　　金：国家自然科学基金资助项目(20563003);教育部新世纪优秀人才支持项目(NCET-06-0268)

年　　份：2009

卷　　号：38

期　　号：3

起止页码：357-358

语　　种：中文

收录情况：AJ、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、IC、MR、WOS、ZGKJHX、ZMATH、ZR、普通刊

摘　　要：在XRD谱图中,用Scherrer公式估算晶体尺寸时,应注意半高峰宽βhkl的修正.βhkl由两部分组成,一是晶粒细化,二是仪器或X射线本身所固有的,称为工具宽化.运用Scherrer公式时应扣除工具宽化,否则会引起较大误差,同时应注意Dhkl的方向性,它有时能给出晶体形状的信息.

关 键 词：Scherrer公式  晶体尺寸  晶粒度

分 类 号：G642]