文献类型：期刊文章

作　　者：艾飞[1] 李兴源[1] 王晓丽[2] 任永生[3] 韦立[4] 刘建[1]

机构地区：[1]四川大学电气信息学院,四川成都610065 [2]杭州余杭供电局,浙江杭州311100 [3]杭州萧山供电局,浙江杭州311200 [4]重庆綦南供电局,重庆400000

出　　处：《四川电力技术》

基　　金：国家自然科学基金资助项目(50595412);国家重点基础研究专项经费项目(2004CB217901);国家科技支撑计划项目(2008BAA13B01)

年　　份：2009

卷　　号：32

期　　号：3

起止页码：1-4

语　　种：中文

收录情况：普通刊

摘　　要：从换相失败的本质原因出发,研究不同短路比对CIGREHVDC模型换相过程的影响。研究表明,增大交流系统强度可减小系统波动,加速系统的恢复过程。在CIGREHVDC模型的基础上,建立双馈入直流输电系统,探讨故障及非故障交流系统强度对多馈入直流输电系统同时换相失败的影响。计算结果表明,增大非故障交流系统强度有利于避免同时换相失败,而增大故障交流系统强度对于避免同时换相失败基本无效。

关 键 词：换相失败 CIGRE HVDC模型  短路比(SCR)  多馈入直流输电系统(MIDC)  同时换相失败  

分 类 号：TM732]