文献类型：期刊文章

作　　者：彭强[1,2] 姚若河[1]

机构地区：[1]华南理工大学电子与信息学院,广州510640 [2]汕尾职业技术学院电子信息系,广东汕尾516600

出　　处：《半导体技术》

年　　份：2009

卷　　号：34

期　　号：5

起止页码：467-469

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、JST、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：为了满足OLED准确批量测试及降低系统成本的需要,根据表征OLED器件性能指标的特点,设计并建立了一套可测试OLED电流密度-电压-亮度以及器件衰减曲线的测试系统。该系统在计算机程控测控稳压电源的控制下,可同时对多路OLED进行测试并实现了OLED屏的加速老化的测试,采用光敏二极管传感器代替了通常使用的辉度计,降低了系统的成本。系统最终输出数据结果由计算机记录,提高了数据采样的准确性,对OLED制作的材料和工艺的评测提供了精确的参考数据。

关 键 词：有机发光显示器件 寿命  测试系统 批量测试  老化测试  加速老化测试  

分 类 号：TN383.1]