文献类型：期刊文章

作　　者：刘达新[1] 董玉德[1] 赵韩[1] 王万龙[2]

机构地区：[1]合肥工业大学机械与汽车工程学院,合肥230009 [2]合肥文斯特科技有限公司,合肥230088

出　　处：《计算机辅助设计与图形学学报》

基　　金：科技部科技型中小企业技术创新基金(04C26223400148)

年　　份：2009

卷　　号：21

期　　号：5

起止页码：700-707

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：针对CAD模型已知的三坐标测量机一般表面(连续或非连续的基本特征表面)上的常用采样策略中存在的问题,提出一种自适应采样方法,并对测量边和面的情况分别给出了具体的采样算法.通过对选取的表面进行分析,采取步长自适应再分迭代自动规划出相应数目的采样点分布;并使采样点达到均匀分布且避开非连续区域.实验结果表明,该方法对于各种复杂情况的一般表面都有比较好的适应性,弥补了随机采样难以均匀化和基于数字序列采样对表面要求完整连续的不足.

关 键 词：CAD/CMM  采样策略 自适应再分  检测规划  

分 类 号：TP391.76]