期刊文章详细信息
CVD 法 TiO_2 薄膜的制备条件及光学性质的研究
Study on Deposition Condition and Optical Properties of TiO 2 Films Deposited by Chemical Vapour Deposition
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]太原理工大学材料工程学院材料系
基 金:山西省留学归国人员基金
年 份:1998
卷 号:29
期 号:3
起止页码:240-243
语 种:中文
收录情况:CAS、JST、ZGKJHX、普通刊
摘 要:以四异丙醇钛(简称TPT)为钛源物质,采用常压化学气相沉积(CVD)法制备了TiO2膜,并对其光学性质进行了研究。实验结果表明:沉积条件是影响TiO2膜的沉积率和光学性质的重要因素。在可见光和近红外区,TiO2薄膜的透射率在68%~85%之间,折光率n=1.75~2.2,消光系数k=2×10-3~9×10-3,带隙能Eg=0.5~1.87eV,制得的TiO2膜均匀细密,膜厚为200nm~450nm。用x-ray扫描仪测得400℃~700℃时,TiO2膜为锐钛矿结构,400℃以下为无定形结构。
关 键 词:化学气相沉积 二氧化钛薄膜 光学性质
分 类 号:O484.1] O484.41[物理学类]
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