文献类型：期刊文章

作　　者：殷庆铎[1] 高文胜[1] 叶宽[2]

机构地区：[1]清华大学电机系电力系统及发电设备控制和仿真国家重点实验室,北京100084 [2]北京电力试验研究院,北京100075

出　　处：《高电压技术》

基　　金：国家自然科学基金(50577038)~~

年　　份：2009

卷　　号：35

期　　号：4

起止页码：766-771

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20092212102359)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：为研究局部放电对电树枝发展过程的影响,实验研究了聚乙稀和有机玻璃的放电特性并根据放电在绝缘材料内部形成的破坏痕迹及放电脉冲波形特征的分析结果,将气隙内局部放电的破坏形式分为直接放电破坏和沿面放电破坏2种类型。施压时间对破坏痕迹影响的结果表明,局部放电会在含有气隙缺陷的绝缘材料中形成3种破坏效应,即热效应、化学腐蚀和机械应力作用,而楔形气隙模型试验研究局部放电破坏效应对电树枝生长过程影响的结果显示,局部放电的放电形式会影响材料的破坏状态,放电形成的破坏效应与电树枝生长状态之间具有一定的关系。这些结果意味着局部放电的行为特性与电树枝生长状态之间存在内在联系。

关 键 词：局部放电 电树枝生长 气隙缺陷 放电类型 破坏效应  破坏痕迹  

分 类 号：TM835]