文献类型：期刊文章

作　　者：曾芷德[1]

机构地区：[1]国防科学技术大学计算机研究所,长沙410073

出　　处：《计算机学报》

基　　金：国家自然科学基金

年　　份：1998

卷　　号：21

期　　号：5

起止页码：448-455

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX1996、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：1998094384465)、IC、INSPEC、JST、MR、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：本文介绍了一个面向非扫描设计的实用的ASIC测试生成和可测性分析系统—ATG－TA.它采用功能块组同步时序电路模型和功能块引腿固定故障模型．可接收四种常用语言描述的电路网表．用FDCM方法引导测试生成过程，用DRFM方法识别组合冗余故障，通过测度分析与规则判定相结合识别时序电路中的不可测故障．用G－F二值算法按有限回溯测试模式产生方法推导测试向量．反向追踪时，采用宽度和深度动态交替代先策略．ATGTA已实际用于四万门以内的非扫描单双向ASIC芯片，效果良好．

关 键 词：ASIC 专用集成电路 测试生成  可测性分析系统  

分 类 号：TN407]