文献类型：期刊文章

作　　者：常悦[1] 王军波[1] 王晓[2] 陈志文[3]

机构地区：[1]63961部队,北京100010 [2]73146部队,福建泉州362320 [3]总装防化局驻成都、贵阳地区军代室,成都610041

出　　处：《弹箭与制导学报》

年　　份：2009

卷　　号：29

期　　号：2

起止页码：147-150

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、IC、INSPEC、JST、核心刊

摘　　要：为了考核引信在电磁环境危害下的性能指标,文中以技术保障及发射过程为例,对引信的技术状态及所受电磁环境危害进行了分析。通过重点研究ESD和HEMP电磁环境对引信的影响,提出ESD和HEMP的试验环境参数,并进一步研究了引信ESD综合实验方法,以及利用HEMP模拟器进行引信HEMP环境模拟实验,从而为引信电磁环境效应评估奠定了基础。

关 键 词：电磁环境 ESD HEMP 环境试验 模拟器

分 类 号：TJ430.6]