期刊文章详细信息
高压断路器断口均压电容器介质损失角增大原因分析及解决措施
Analysis of Grading Capacitor tanδ Expansion for High Voltage Circuit Breaker
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]安徽淮北供电公司,安徽淮北235000
年 份：2009
卷 号：45
期 号：2
起止页码：97-98
语 种：中文
收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要：笔者通过对高压断路器均压电容器均压原理论述以及损耗的产生和tanδ值易于偏大的原因分析,着重介绍了电容介质材料在交流电压作用下的极化损耗和电导损耗,解析了均压电容器在各种场强下tanδ的变化情况,并提出了降低离子杂质体积分数以改善tanδ增大的解决措施。
关 键 词：均压电容器 损耗角正切TANΔ 杂质
分 类 号：TM561]
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