文献类型：期刊文章

作　　者：李辉[1] 杨传铮[2] 刘芳[1]

机构地区：[1]上海杉杉科技有限公司,上海201209 [2]中国科学院微系统与信息技术研究所,上海200050

出　　处：《测试技术学报》

年　　份：2009

卷　　号：23

期　　号：2

起止页码：161-167

语　　种：中文

收录情况：AJ、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：介绍了测定碳电极材料石墨化度g和无序度P的X射线衍射(XRD)原理与方法,包括从二维(1 0)和(1 1)衍射的Fourier分析、全谱拟合法以及利用石墨化度g与d002之间的关系曲线的方法.提出由θ002求g的方法和新公式.进行了石墨化度与无序度测定的实验研究,包括不同实验条件对全谱拟合结果的影响、不同求解d002的影响,以及d002法、θ002法与全谱拟合法的比较.结果表明,全谱拟合法求得的无序度Pwsf在用d002法的直线和曲线测得的结果之间,d002法和θ002法测得的g符合很好.提出全谱拟合法和用Si粉作内标样的d002及θ002法的衍射实验测定最佳方案.

关 键 词：石墨化度 无序度 全谱拟合  d002法  X射线衍射

分 类 号：O484.1] TM912[物理学类]