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电磁脉冲作用下RS232接口受损特性分析
Fault Analysis of RS232 Interface Interfered by the Electromagnetic Pulse
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]第二炮兵工程学院,陕西西安710025 [2]中国人民解放军61081部队,北京100094
年 份：2009
卷 号：26
期 号：4
起止页码：252-254
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX2008、CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、ZGKJHX、核心刊
摘 要：采用耦合夹钳将双指数电磁脉冲注入到RS232数据传输线中,模拟差模脉冲电压干扰,根据试验数据分析得出,RS232接口发送端口和接收端口主要因外加高压激发形成接口电路低阻通路,电路器件局部注入能量过多而受损,同时给出注入电压脉冲幅度和接口端口受损概率的Logistic模型,并以此估算出了端口正常和受损时的电压脉冲幅度上下界.
关 键 词：电磁脉冲干扰 RS232接口 LOGISTIC回归
分 类 号：TP309]
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