文献类型：期刊文章

作　　者：车文刚[1] 苏磊[1] 王宏祥[1] 焦越[1]

机构地区：[1]云南工业大学信息与电子工程学院,昆明650051

出　　处：《电子学报》

基　　金：云南工业大学校立基金

年　　份：1998

卷　　号：26

期　　号：5

起止页码：42-47

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX1996、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：1999114544032)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：为了解决大容量存贮器制造过程中因缺陷而造成成品率低的问题，或并行阵列中的容错重组问题，一般采用冗余修复的方法，该问题可以归结为对二分图的覆盖，且该问题属于NP完全问题．本文提出一个新的二分图无关分解方法．运用这一方法，可将一个二分图分解为多个互不关联的子图，然后分别在各子图中对缺陷进行覆盖，从而使该问题复杂度降低，提高修复速度．

关 键 词：二分图 覆盖问题  无关分解  存贮器

分 类 号：TP333.501]