期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]安世亚太科技(北京)有限公司,北京100026
年 份:2009
卷 号:18
期 号:1
起止页码:73-77
语 种:中文
收录情况:CSA、CSA-PROQEUST、IC、INSPEC、普通刊
摘 要:为在有限的硬件资源下,对复杂单元的大规模阵列天线进行有效分析,提出采用FEKO软件分析任意大规模阵列天线的有效方法.首先应用FEKO进行相控阵分析,然后根据阵列天线的单元激励方向图(Active Element Pattern,AEP)进行阵列天线FEKO仿真分析.实例表明,在普通硬件资源条件下,FEKO仿真分析可以在考虑单元互耦等实际因素的影响下,分析任意大规模阵列的方向图和端口特性等指标.
关 键 词:阵列天线 单元激励方向图 互耦 FEKO
分 类 号:TN821]
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