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期刊文章详细信息

椭偏法测膜厚的直接计算方法    

  

文献类型:期刊文章

作  者:吴永汉[1] 窦菊英[1]

机构地区:[1]云南大学物理系,昆明650091

出  处:《物理实验》

年  份:1998

卷  号:18

期  号:1

起止页码:11-13

语  种:中文

收录情况:JST、普通刊

摘  要:改进了椭偏法测薄膜折射率和膜厚的迭代计算方法,由测量得到的起偏角A和检偏角P直接算出薄膜折射率和膜厚.

关 键 词:椭偏法 迭代计算 薄膜  折射率 膜厚

分 类 号:O484.5]

参考文献:

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同被引文献:

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