文献类型：期刊文章

作　　者：李静[1] 黄培康[2] 潘旭东[1] 王小虎[1]

机构地区：[1]中国航天科工集团公司第四研究院,北京100038 [2]中国航天科工集团公司科技委,北京100854

出　　处：《系统工程与电子技术》

年　　份：2009

卷　　号：31

期　　号：2

起止页码：315-318

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20091311991363)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘　　要：雷达下视环扫成像作为一种特殊的成像方式,可在较大地域范围对感兴趣的目标快速成像,继而对飞行器定位并精确制导。对下视环扫DBS和环扫SAR两种成像模式进行了分辨率研究,纠正了一些文献在DBS分辨率计算时存在的混淆;对两种环扫模式的理论方位分辨率进行了比较;建立了飞行器末段环扫成像参数的优化模型,给出优化方法。分析了不同环扫模式的适用性,并指出相比全程环扫SAR模式,高程环扫SAR+低程环扫DBS的成像模式可为定位增加信息量,但改善量不大。

关 键 词：环扫DBS  环扫SAR  方位分辨率 约束最优化  

分 类 号：TN822]