文献类型：期刊文章

作　　者：陆俭国[1] 骆燕燕[1] 李文华[1] 孟凡斌[2] 王立忠[3]

机构地区：[1]河北工业大学电器研究所,天津300130 [2]河北工业大学材料科学与工程学院,天津300130 [3]桂林航天电子有限公司,桂林541002

出　　处：《电工技术学报》

基　　金：天津市应用基础及前沿技术研究计划资助项目(08JCZDJC25600)

年　　份：2009

卷　　号：24

期　　号：2

起止页码：54-59

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20091211965781)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：讨论了航天用电磁继电器贮存可靠性的研究方法,分析了贮存条件下航天电磁继电器的失效机理。根据研究制定的试验方案对产品进行了恒定温度应力加速贮存寿命试验,试验后对典型试验样品进行了失效分析。最后,运用灰色理论模型预测了不同温度应力下的贮存寿命。实践证明,上述方法可以用于航天电磁继电器贮存寿命的研究。

关 键 词：加速寿命试验 电磁继电器 贮存寿命  失效分析  

分 类 号：TM561]