期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]清华大学电子工程系,北京100083 [2]清华同方电子信息技术研究所,北京100083
年 份:2009
卷 号:25
期 号:1
起止页码:18-21
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2008、CSA、CSCD、CSCD2011_2012、INSPEC、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊
摘 要:非均匀采样由于其具有不受采样频率限制和抗混叠等优点,使得其应用十分广泛。但非均匀采样会引起频谱噪声,使得信号中的幅度小的频率成分不易检出。本文分析了非均匀采样引起频谱噪声的原因,根据非均匀采样检测得到的大幅度信号,应用陷波器将其消除,降低频谱噪声,从而检测和重构出小信号。文中详细说明了陷波方法的原理以及陷波器在非均匀采样下的应用,最后给出实验结果。理论和实验表明,采用陷波方法可以检测和重构出非均匀采样下的小信号。
关 键 词:非均匀采样 陷波 重构
分 类 号:TP311]
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