文献类型：期刊文章

作　　者：单文磊[1] 王芄[1] 钱珉[1] 杨森祖[1]

机构地区：[1]南京大学电子科学与工程系微结构科学技术高等研究中心

出　　处：《南京大学学报（自然科学版）》

年　　份：1998

卷　　号：34

期　　号：1

起止页码：57-63

语　　种：中文

收录情况：CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、MR、RCCSE、ZGKJHX、ZMATH、普通刊

摘　　要：根据谐振腔与Ｊｏｓｅｐｈｓｏｎ结耦合结构的等效电路模型，用数值计算方法研究了结与谐振腔互作用时的Ｊｏｓｅｐｈｓｏｎ效应，得出了腔感应电流台阶高度与谐振电路的品质因素Ｑ值之间的关系；在外加微波辐照下，发现Ｓｈａｐｉｒｏ台阶高度随微波功率的变化规律也有变化，并计算了损耗电阻ＲＬ对耦合结构Ｓｈａｐｉｒｏ台阶高度随微波功率变化关系的影响．基于以上关系，我们提出了利用腔结耦合测量超导薄膜表面电阻的初步设想．

关 键 词：JOSEPHSON结 谐振腔 耦合  Shapiro台阶  超导体

分 类 号：O511.1]