期刊文章详细信息
一种带温度和工艺补偿的片上时钟振荡器
A Temperature Compensation and Process Calibration On-Chip CMOS Clock Oscillator
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]北京工业大学北京市嵌入式系统重点实验室,北京100022
年 份：2009
卷 号：26
期 号：1
起止页码：16-20
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX2008、CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、ZGKJHX、核心刊
摘 要：基于SMIC0.18μm1P6M的标准CMOS工艺,设计并实现了一种带温度补偿和工艺偏差校准的60MHz片上CMOS时钟振荡器.经仿真和流片测试验证,该结构的时钟振荡器输出频率能很好的稳定在60-61MHz,温度从-25℃变化至75℃时,频率仅变化108.5kHz,在对时钟精度要求不高的应用下,完全可以取代片外的石英晶振,降低成本.
关 键 词：温度补偿 工艺偏差校准 环形振荡器 带隙基准
分 类 号：TN752]
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