文献类型：期刊文章

作　　者：李德高[1] 王万良[1] 闵芳胜[2] 沈海平[3]

机构地区：[1]浙江工业大学信息学院,浙江杭州310014 [2]杭州远方光电信息有限公司,浙江杭州310053 [3]复旦大学光源与照明工程系,上海200433

出　　处：《液晶与显示》

年　　份：2008

卷　　号：23

期　　号：6

起止页码：722-725

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、EBSCO、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：提出了用理想因子n评价大功率LED可靠性的新方法。通过对大功率LEDI-V曲线的拟合计算出理想因子n的数值,对大功率LED进行电流加速老化试验,用最小二乘法算法将ln-t关系拟合成一条直线从而测得大功率LED的寿命,并据此讨论了大功率LED的理想因子与其寿命的关系。实验结果证明,理想因子n可以用于评价大功率LED的可靠性。

关 键 词：大功率LED 理想因子  可靠性 寿命  

分 类 号：TN312.8] O471]