文献类型：期刊文章

作　　者：王志萍[1] 李晖[1] 刘军[1] 王晓艳[1]

机构地区：[1]中色(宁夏)东方集团有限公司分析检测中心,宁夏石嘴山753000

出　　处：《冶金分析》

年　　份：2008

卷　　号：28

期　　号：11

起止页码：40-42

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20090311861085)、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、UPD、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：研究了电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定钨铁中杂质元素Cu，Mn，Si的分析方法，确定了仪器最佳分析条件，考察了试样溶解、元素分析谱线、草酸介质的浓度对被测元素的的影响。试样经草酸-过氧化氢分解后，在苹酸介质中，通过分别选择327．396nm，279．482nm，251．612nm作为铜、锰，硅的分析线和适当的扣背景点，基体元素W，Fe和其他共存元素对测定没有干扰，可以不经分离直接测定。Cu，Mn，Si的检出限分别为0．0052μg／mL，0．0072μg／mL，0．0090μg／mL。本法可以用于同时测定钨铁中的铜、锰、硅，相对标准偏差（n=7）为0．47％～1．98％。

关 键 词：电感耦合等离子体原子发射光谱法 钨铁 铜  锰 硅 测定  

分 类 号：TG115.33]