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X-射线荧光光谱法测定硅石中主次成分 ( EI收录)
Determination of major and minor components in silica by X-ray fluorescence spectrometry
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]鲅鱼圈出入境检验检疫局,辽宁营口115007
年 份:2008
卷 号:28
期 号:10
起止页码:31-35
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:20085111794632)、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、UPD、ZGKJHX、核心刊
摘 要:采用硅石标准样品及其复配标准样品作为校准样品,建立了熔融制样X-射线荧光光谱法测定硅石中SiO2,Fe2O3,Al2O3,CaO,MgO,K2O,TiO2,MnO,P2O5主次成分的方法。采用熔融法为试料片和校准片的制备方法,通过试验选择四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂(12∶22,m/m)为助熔剂、1.00 mL LiBr溶液为脱模剂、稀释比为1∶20、熔融时间30 min。采用可变理论α系数对基体效应进行校正。对同一硅石样品进行测定的相对标准偏差(RSD)小于8%,对不同硅石样品进行测定,本法的测定结果与标准方法的测定结果相吻合,偏差在允许范围内,t检验合格。
关 键 词:硅石 X-射线荧光光谱法 主次成分 熔融制样
分 类 号:P575.4]
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