期刊文章详细信息
数字集成电路测试技术应用
Digital Integrate Circuit Testing Applications
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳110032
年 份：2008
卷 号：29
期 号：4
起止页码：36-37
语 种：中文
收录情况：ZGKJHX、普通刊
摘 要：介绍了数字集成电路测试系统的基本构成,当今超大规模数字集成电路测试的基本原理,并在掌握这些测试理论的基础之上针对不同类型的测试系统利用其各自测试语言进行编程的测试技术应用,同时也提出了集成电路测试技术面临的挑战和未来发展趋势。
关 键 词：集成电路测试 测试矢量 测试方法
分 类 号：TN4]
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