登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

IGBT技术发展综述    

Review on Development of IGBT Technology

  

文献类型:期刊文章

作  者:叶立剑[1] 邹勉[1] 杨小慧[1]

机构地区:[1]南京电子器件研究所,南京210016

出  处:《半导体技术》

年  份:2008

卷  号:33

期  号:11

起止页码:937-940

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、JST、ZGKJHX、核心刊

摘  要:绝缘栅双极晶体管(IGBT)自问世以来,在结构设计、加工工艺和应用开发等方面得到了很大的发展。概述了IGBT的一般结构和发展历史,着重介绍了近年来几个专利技术中IGBT结构设计和制造方面的新进展。特别是宽禁带半导体材料SiC的异军突起,为IGBT技术开辟了一个新的发展空间。

关 键 词:绝缘栅双极晶体管 专利  碳化硅 掺砷

分 类 号:TN389]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心