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期刊文章详细信息

浅谈集成电路交流参数的测试    

The Discussion about AC Parameter Test of IC

  

文献类型:期刊文章

作  者:张静[1] 于祥苓[1] 李海泉[2]

机构地区:[1]中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳110032 [2]东软飞利浦医疗设备系统有限责任公司,沈阳110179

出  处:《微处理机》

年  份:2008

卷  号:29

期  号:3

起止页码:28-29

语  种:中文

收录情况:ZGKJHX、普通刊

摘  要:介绍交流参数的概念,测试基本原理与方法,交流参数测试的目的与意义,并以具体电路为例,讲解了在J750测试系统上进行交流参数测试的两种方法,搜索法和功能验证法,并对两种方法进行对比。

关 键 词:集成电路 交流参数 功能验证  

分 类 号:TN4]

参考文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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