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MCS51单片机系统电磁干扰测试研究
Research on EMI Test of MCS51 Single Chip
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]中国人民解放军73906部队52分队
年 份：2008
卷 号：5
期 号：4
起止页码：81-83
语 种：中文
收录情况：CAS、CSA、CSA-PROQEUST、JST、ZGKJHX、普通刊
摘 要：为了确定MCS51单片机系统工作模式下的电磁场的时空分布,利用电磁兼容扫描仪对系统进行扫描分析,找出系统三维电磁场辐射图形,从而精确定位辐射干扰源的位置并分析频谱成分。试验结果表明:系统正常工作时MCS51单片机芯片、晶振以及程序存储器是产生干扰频率的主要来源,电磁辐射强度最高可达36 dBμV。
关 键 词：电磁干扰 辐射强度 MCS51单片机
分 类 号：TP368.1]
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