期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]四川联合大学测试技术与控制工程系
年 份:1997
期 号:4
起止页码:39-41
语 种:中文
收录情况:普通刊
摘 要:本文介绍了用双管显微镜测量轮廓线采样点坐标值的方法。同时,提出了计算表面粗糙度六个评定参数的微机处理程序。
关 键 词:表面粗糙度 双管显微镜 评定参数 测量
分 类 号:TG84] TH741.8]
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