文献类型：期刊文章

作　　者：贺卫利[1] 郭伟玲[1] 高伟[1] 史辰[1] 陈曦[1] 吴娟[1] 陈建新[1]

机构地区：[1]北京工业大学电控学院光电子技术实验室,北京100022

出　　处：《应用光学》

基　　金：北京市教委项目(10200650)

年　　份：2008

卷　　号：29

期　　号：4

起止页码：533-536

语　　种：中文

收录情况：AJ、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：介绍了发光二极管(LED)的发展简史。提出可能影响LED可靠性的几种因素,主要有封装中的散热问题和LED本身材料缺陷。对于LED可靠性,主要方法是通过测试其寿命来分析其可靠性,一般采取加速实验的方法来测试推导LED寿命。介绍了根据加速应力(主要分为单一加速应力和复合加速应力2种)评价LED寿命的测试方法。在不同加速试验应力条件下测试了大功率LED可靠性,并建立了LED寿命的几种数学模型。最后根据具体实例,通过选择加速应力和试验方法,给出具体推导LED寿命的数学公式。

关 键 词：发光二极管 寿命评价试验方法  加速应力  数学模型

分 类 号：TN384]