期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]中北大学理学院电子测试技术国家重点实验室,太原030051
基 金:国家自然基金资助项目(No.60532080)
年 份:2008
卷 号:13
期 号:2
起止页码:129-133
语 种:中文
收录情况:ZGKJHX、普通刊
摘 要:在实际的三维锥束CT重建中,受扫描结构的限制,当连续X射线穿过物体时,像素对射线的采样间隔不能满足Nyqust采样定理,这样通道信号产生混叠,使得重建图像出现伪迹。本论文针对这一问题,在用splatting算法[1-2]计算代数重建算法权系数的基础上,分析了伪迹产生的原因并对对应的内插函数作了适当的变换,提出了适用于3-D锥束圆轨迹CT扫描系统的去伪处理方法。结果表明,经过去伪处理后,重建图像的分辨率明显提高。
关 键 词:去伪处理 锥束扫描 内插函数 伪迹
分 类 号:TN911.7]
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