期刊文章详细信息
迈克尔逊干涉仪测量薄膜的折射率与厚度
Refractive Index and Thickness of Michelson Interferometer Measure Film
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]郧阳师范高等专科学校物理系,湖北丹江口442700
基 金：湖北省教学研究资助项目(2003298)
年 份：2008
卷 号：28
期 号：3
起止页码：26-27
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：用迈克尔逊干涉仪测量薄膜折射率与厚度的方法,原理简单.通过测出动镜的移动量及观察相应的干涉条纹变化现象,就能计算薄膜的厚度,有较高的测量精度.并基于此装置进行实际测量,理论和实际相符的较好.
关 键 词：迈克尔逊干涉仪 薄膜厚度 干涉条纹
分 类 号：O436.1]
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