文献类型：期刊文章

作　　者：汪金刚[1] 何为[1] 陈涛[2] 罗晓初[2] 何园丁[3]

机构地区：[1]重庆大学输配电设备及系统安全与新技术国家重点实验室,重庆400030 [2]重庆电力科学试验研究院,重庆400015 [3]四川电力设计咨询有限责任公司,成都610016

出　　处：《电工技术学报》

年　　份：2008

卷　　号：23

期　　号：6

起止页码：137-142

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20082911385152)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：通过仿真计算表明绝缘子串出现劣化绝缘子时,其表面以及周围空间电场分布变化明显,平均变化幅度超过10%,局部区域明显加强,因此导致电晕放电加强。绝缘子表面电场的变化将导致电晕放电中紫外脉冲的数量以及功率发生变化,基于此研制了UV-I型绝缘子检测仪,通过检测绝缘子串一段时间内电晕放电中的紫外脉冲数量的变化,判断是否存在劣化绝缘子。先后在高压大厅和现场进行了多次试验,试验结果表明:当绝缘子串中出现劣化绝缘子时,放电加强,放电中的紫外脉冲数量将增多,对于110kV和220kV的相对放电变化率分别超过10%和8%,与仿真电场变化比成正比,UV?I型绝缘子检测仪能有效检测劣化绝缘子。

关 键 词：劣化绝缘子 紫外脉冲  电场 非接触检测  

分 类 号：TM83]