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期刊文章详细信息

材料表面分析技术综述    

The summany of analytical technology of material surface

  

文献类型:期刊文章

作  者:钟世德[1] 王书运[2]

机构地区:[1]山东轻工业学院数理学院,山东济南250353 [2]山东师范大学物电学院,山东济南250014

出  处:《山东轻工业学院学报(自然科学版)》

年  份:2008

卷  号:22

期  号:2

起止页码:59-64

语  种:中文

收录情况:CAS、普通刊

摘  要:材料表面分析技术是通过分析探束或探针与材料表面发生作用产生的许多信息而研究表面的。主要分为表面形貌分析、表面组分分析和表面结构分析等几大部分,其中表面形貌分析技术有扫描电镜、透射电镜、扫描隧道显微镜、原子力显微镜等;表面组分分析技术主要有俄歇电子能谱、光电子能谱、二次离子质谱、电子探针显微分析、离子探针显微分析等;表面结构分析技术主要有X射线衍射、电子衍射和中子衍射等。本文主要讨论了上述方法技术的原理、适用范围及特点。

关 键 词:表面分析  扫描电镜 原子力显微镜 俄歇电子能谱 X射线衍射

分 类 号:TB30[材料类] O647]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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