文献类型：期刊文章

作　　者：包蕊[1] 李建强[1] 季春红[1] 范慧俐[1] 宋秀华[2] 陈姗姗[2]

机构地区：[1]北京科技大学应用科学学院,北京100083 [2]北京英纳超导技术有限公司,北京100176

出　　处：《光谱学与光谱分析》

基　　金：“十一五”“863”项目(2006AA03Z236)资助

年　　份：2008

卷　　号：28

期　　号：6

起止页码：1390-1393

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20082911385286)、IC、INSPEC、JST、PUBMED、RCCSE、RSC、SCI(收录号：WOS:000257356600045)、SCI-EXPANDED(收录号：WOS:000257356600045)、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：利用ICP-AES法测定了铋系超导前驱粉（BSCCO）中Fe,Cr,Ni,Si,Al和Ba等微量杂质元素,优化了仪器测定参数并研究了酸的种类及浓度对测定结果的影响。系统研究了BSCCO基体元素Bi,Sr,Pb,Ca和Cu对微量杂质元素测定的干扰,分别测定了每个基体元素对测定元素的校正系数并组成交互干扰校正矩阵,采用全选主元高斯消去法计算出基体元素产生的背景等效浓度,再计算出样品的真实浓度。用此方法对合成标样中的上述微量杂质元素进行了测定,分析结果的回收率99.5%-100.5%,测定了实际样品中的杂质元素,并与ICP-MS法进行了对比,二者结果一致。

关 键 词：干扰系数矩阵  ICP-AES 杂质元素  铋系超导前驱粉  

分 类 号：O657.3]