文献类型：期刊文章

作　　者：胡文金[1] 江永清[2] 吴英[1] 柏俊杰[1] 贾世军[1]

机构地区：[1]重庆科技学院电子信息工程学院,重庆401331 [2]重庆光电技术研究所,重庆400060

出　　处：《半导体光电》

年　　份：2008

卷　　号：29

期　　号：3

起止页码：341-344

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：针对光电耦合器应用过程中对其隔离性能及动态特性的测试需求,使用ADuc841微控制器设计了一种数字光电耦合器快速测试仪。介绍了基于DC-DC变换器输出高电压测试光电耦合器的隔离性能和使用变频、变宽的脉冲串测试其动态特性的基本原理,给出了测试仪的硬件组成和软件实现方法。该测试仪已用于I/O卡的生产过程,表明该测试仪能够快速测试光耦的隔离电压及其动态特性。

关 键 词：光电耦合器 特性  测试仪 DC-DC变换器 ADUC841

分 类 号：TN364.3]