期刊文章详细信息
模拟智能BIT测试微处理机系统板
Simulating the Intelligent BIT to Test PC Board
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]西安理工大学高等技术学院计算机科学系,陕西西安710082
年 份：2008
期 号：5
起止页码：171-173
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：机内测试技术(Built-inTest,简称BIT)是一种能显著改善装备或系统测试性与诊断能力的重要技术手段。智能机内测试模拟系统是运用智能BIT技术的理论,开发出的一个对硬件设备在线测试的模拟系统。它是在Windows操作系统下,利用嵌入式C语言开发出来的,嵌入式C语言现广泛应用于各种硬件测试及开发环境中。智能机内测试模拟系统在对智能的模拟方面运用数组、随机函数等方法来实现,从而体现出智能机内测试的特点。本文描述了系统中对微处理机系统板部分的测试过程。
关 键 词：机内测试技术 智能BIT技术 嵌入式C语言 模拟系统
分 类 号：TP368.1]
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