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期刊文章详细信息

沉积气压对氮化硼薄膜场发射特性的影响    

Influence of Deposition Pressure on Field Emission Characteristics of Boron Nitride Films

  

文献类型:期刊文章

作  者:李卫青[1]

机构地区:[1]天津大学理学院现代材料物理研究所,天津市低维功能材料物理与制备技术重点实验室,天津300072

出  处:《液晶与显示》

基  金:国家自然科学基金资助项目(No10647140);天津大学青年基金资助项目(No5110119)

年  份:2008

卷  号:23

期  号:3

起止页码:352-356

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、EBSCO、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:利用等离子体增强脉冲激光沉积系统,在n型Si(100)基底上沉积了不同沉积气压下的纳米BN薄膜,利用红外光谱(FTIR)对BN薄膜进行了表征。通过原子力显微镜(AFM)观察了薄膜的表面形貌。在超高真空(<5.0×10-7Pa)情况下测量了薄膜的场致发射特性。实验结果表明,沉积气压对BN薄膜的场发射特性影响很大。BN薄膜的阈值电场随着沉积气压的升高而升高,发射极限电流随着沉积气压的升高而较小,但耐压特性提高。沉积气压为2Pa时沉积的BN薄膜的场发射的阈值电场最低,为12V/μm,当电场升高到27V/μm时,场发射电流密度为140.6μA/cm2;当沉积气压升高到5Pa时,阈值电场升高为26V/μm,当电场升高到59V/μm时,发射电流密度为187.5μA/cm2;沉积气压升高到15Pa时的样品的阈值电场已经高达51V/μm。所有BN薄膜的F-N曲线都符合F-N理论,表明电子发射是通过隧穿表面势垒完成的。

关 键 词:射频等离子体 氮化硼薄膜 场发射特性 阈值电场  

分 类 号:O472.4] O484.4[物理学类]

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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