文献类型：期刊文章

作　　者：曾令民[1] 杨喜英[2] 王力珩[3] 李小萍[3] 葛宪民[3]

机构地区：[1]广西大学物理科学与工程技术学院材料科学研究所,南宁530004 [2]广西大学化学化工学院,南宁530004 [3]广西职业病防治研究所,南宁530021

出　　处：《分析化学》

基　　金：广西自然科学基金(No.0728166);广西卫生厅资助基金(No.20038);广西大型仪器协作公共网资助

年　　份：2008

卷　　号：36

期　　号：5

起止页码：599-603

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EBSCO、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCI(收录号：WOS:000257902600007)、SCI-EXPANDED(收录号：WOS:000257902600007)、SCIE、SCOPUS、UPD、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：应用X射线衍射技术与Rietveld全谱图拟合法测定了粉尘中游离SiO2的含量，并同时得到粉尘样品中其它晶相和非晶相物质的含量。实验采用日本理学D／MAX2500V型X射线衍射仪，CuKα辐射带石墨单色器，管电压44kV，管电流150mA，步进扫描收集衍射数据，经Jade5．0软件定性分析，DBWS9807a软件定量分析，结果为：Rp平均等于11．29％，Rwp平均等于13．74％，Rexpected平均等于4．04％。SiO2在各样品中的含量为15．61％-37．83％；加标回收率为102．6％-119．9％；重现性测定相对标准偏差（RSD）为1．14％。结果表明：用Rietveld全谱图拟合法测定粉尘中游离SiO2的含量是一种快速、准确、方便的方法。

关 键 词：定量分析  游离二氧化硅 非晶体 X射线衍射 Rietveld全谱图拟合法  

分 类 号：R134]