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BIT技术的发展现状与应用分析
Analysis of Development and Application of BIT Technology
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]装备指挥技术学院研究生院,北京101416 [2]装备指挥技术学院航天装备系,北京101416
年 份：2008
卷 号：27
期 号：4
起止页码：5-7
语 种：中文
收录情况：CSA、CSA-PROQEUST、IC、UPD、ZGKJHX、普通刊
摘 要：BIT技术的性能主要从故障探测、故障定位(针对单一的外场可更换单元)、虚假警报、以及错误诊断等方面加以说明。对于正确隔离故障来说,BIT所制定的目标会随着BIT等级的不同而有所变化。BIT等级越低,正确隔离故障的总体能力就越低;BIT等级越高,正确隔离故障的总体能力就越高。
关 键 词：机内测试(Built—In Test) 虚警 故障诊断 人工智能
分 类 号：TP206]
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