文献类型：期刊文章

作　　者：刘恒彪[1] 池景春[1]

机构地区：[1]同济大学理学部,上海200092

出　　处：《光学学报》

基　　金：教育部留学回国人员科研启动基金(教外司留[2005]383号)资助课题

年　　份：2008

卷　　号：28

期　　号：2

起止页码：279-284

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20081511198206)、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：粗糙表面在多波长激光束照射下形成的多色散斑场显示出散斑延长效应,利用此效应可以测量表面粗糙度,并且测量结果在一定条件下不受粗糙表面横向特征的影响。通过模拟计算随机粗糙表面的多色散斑场,以空间平均的多色散斑场局部自相关函数研究了平均散斑延长率〈χ〉对表面轮廓均方根偏差σh的依赖关系,分析了测量系统因素,如入射激光波长组合、成像器件光敏单元尺寸和动态范围对测量结果的影响。结果表明,以空间平均的局部自相关函数代替集平均的散斑自相关函数描述多色散斑延长效应是有效的;为达到一定的粗糙度测量精度,应选择合适的入射激光波长组合和合适的成像器件光敏单元尺寸。

关 键 词：光学测量 表面粗糙度 激光散斑 多色散斑自相关  散斑延长  散射场模拟  

分 类 号：TH741]