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期刊文章详细信息

PECVD淀积SiO_2的应用    

Applied research on SiO_2 deposited by PECVD

  

文献类型:期刊文章

作  者:吕文龙[1] 罗仲梓[1] 何熙[2] 张春权[1]

机构地区:[1]厦门大学萨本栋微机电研究中心,厦门361005 [2]天津大学材料学院,天津300072

出  处:《功能材料与器件学报》

年  份:2008

卷  号:14

期  号:1

起止页码:33-37

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:研究了PECVD腔内压力、淀积温度和淀积时间等工艺条件对SiO2薄膜的结构、淀积速率和抗腐蚀性等性能的影响。结果表明,利用剥离工艺,并采用AZ5214E光刻胶作为剥离掩模成功制作了约2μm厚的包裹在金属铝柱周围的SiO2隔热掩模。

关 键 词:PECVD SIO2 AZ5214E  剥离  

分 类 号:TN304]

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同被引文献:

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