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期刊文章详细信息

光栅尺纳米测量技术研究及其发展    

  

文献类型:期刊文章

作  者:闫如胜[1] 马修水[1] 李桂华[1] 应仲阳[1]

机构地区:[1]安徽大学测量与控制工程系,合肥230039

出  处:《安徽电子信息职业技术学院学报》

基  金:安徽省教育厅自然科学基金项目资助

年  份:2008

卷  号:1

期  号:1

起止页码:70-71

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:介绍了光栅尺纳米测量技术的国内外研究现状,并对它们优劣进行了分析,在上述成果的基础上,得出一种以光栅栅距为测量基准,测量精度主要取决于光栅栅线的刻制精度的光栅干涉测量方法,它受光源光强和波长变化的影响很小,因此在工况条件下能够具有较好的测量精度和稳定性,符合大量程、高分辨力、动态等纳米测量技术的发展趋势,最后对此测量系统将实现样机仪器化、产业化进行了展望。

关 键 词:光栅尺 纳米测量  光栅干涉  

分 类 号:TN929.1] TB39]

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同被引文献:

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