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期刊文章详细信息

基于虚拟串口的嵌入式系统测试卡设计    

Embedded System Test Card Design Based on Visual Com Port

  

文献类型:期刊文章

作  者:薛震宇[1]

机构地区:[1]罗技科技(苏州)有限公司产品开发部,江苏苏州215129

出  处:《仪表技术》

年  份:2008

期  号:2

起止页码:54-55

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:论述利用FTDI245和ATMEGA单片机组成的测试卡对嵌入式系统进行测试,阐述信号传输的原理、方法和系统的实现,同时对相应的固件程序设计进行简要描述。

关 键 词:FTDI245  ATMEGA32 SPI USB

分 类 号:TP39]

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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