文献类型：期刊文章

作　　者：冯志庆[1] 王淑荣[2] 王晓君[3] 狄卫华[3] 李福田[2]

机构地区：[1]大连民族学院光电子技术研究所,辽宁大连116600 [2]中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室,吉林长春130033 [3]中国科学院长春光学精密机械与物理研究所激发态物理重点实验室,吉林长春130033

出　　处：《光学精密工程》

基　　金：国家自然科学基金资助项目(No.5050326);大连民族学院博士启动基金资助项目

年　　份：2008

卷　　号：16

期　　号：1

起止页码：59-63

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20081011136120)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：在自行研制的测试仪器的基础上，用增加激发光总量检测和荧光粉表面漫反射光检测，两者相减获得绝对吸收的方法改善荧光粉在120～300nm紫外一真空波段的相对量子效率测量精度。总量检测通过一块漫反射板标定实现，给出了标定和测量过程。改进后相埘量子效率测量误差减小到1％以内，同时利用该方法获得了较为精细的激发光谱曲线，光谱分辨率达到1nm。对BaMgAI10O17Eu蓝色荧光粉和LaOO4：Tb、LaPO4：CeTb以及YPO4：Tb三种绿色荧光粉激发光谱进行了测量。

关 键 词：平板等离子体显示  荧光粉 相对亮度  VUV激发光谱  

分 类 号：TN104.3]